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產(chǎn)品展示
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放射率測定器 TSS-5X-3 產(chǎn)品介紹與分析(JAPANSENSOR)

  • 發(fā)布日期:2026-04-29      瀏覽次數(shù):60
    • TSS-5X-3 是日本 JAPANSENSOR(ジャパンセンサー)推出的常溫型高精度紅外放射率測試儀,核心優(yōu)勢為無需加熱樣品、室溫快速無損測量、精度高、操作簡便,廣泛用于材料熱設(shè)計、半導(dǎo)體、航空航天、能源冶金與科研質(zhì)檢。
       
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      一、核心參數(shù)(規(guī)格總覽)

       
      表格
      參數(shù)項 技術(shù)指標(biāo) 說明
      測量范圍 放射率 ε=0.00~1.00 覆蓋幾乎所有固體材料
      測量波長 2~22 μm 遠(yuǎn)紅外波段,適配常溫材料輻射特性
      測量精度 ±0.01 以內(nèi) 工業(yè)級高精度,可分辨表面處理細(xì)微差異
      測量方式 恒溫紅外反射能量檢測法 不加熱樣品,10~40℃室溫直接測
      測量面積 / 距離 Φ15 mm / 12 mm(固定) 探頭腳柱限位,重復(fù)性好
      響應(yīng)時間 約 0.1 sec(0~63%) 快速讀數(shù),適合批量檢測
      顯示 / 輸出 LED 數(shù)字顯示;0~0.1V、0~1V 模擬輸出 可直讀或接記錄儀 / PLC
      使用環(huán)境 溫度 10~45℃;濕度 35~85% RH(無結(jié)露) 實驗室 / 產(chǎn)線通用
      電源 / 功耗 AC100~240V,50/60Hz,30W 寬電壓適配全球
      尺寸 / 重量 探頭:Φ51×137 mm,0.6 kg;主機(jī):156×306×230 mm,5.0 kg 分體式,便攜易用
      標(biāo)準(zhǔn)附件 放射率基準(zhǔn)片(ε=0.06 鏡面、0.97 黑體)、收納箱、3m 電纜 出廠即配校準(zhǔn)件
       

       

      二、測量原理(通俗 + 精簡)

       
      采用半球面黑體爐恒溫輻射 + 紅外反射能量比對法:
       
      1. 內(nèi)置恒溫紅外源(黑體爐)發(fā)射 2~22μm 遠(yuǎn)紅外,均勻照射樣品表面;

      2. 樣品反射的紅外能量被高靈敏度紅外探測器接收;

      3. 儀器通過反射率 r換算:ε=1−r,直接計算并顯示放射率;

      4. 每次測量前用ε=0.06/0.97 標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn),消除漂移,保證精度。

         
       

       

      三、核心優(yōu)勢(為什么選 TSS-5X-3)

       
      1. 常溫?zé)o損測量:無需加熱 / 破壞樣品,室溫 10~40℃直接測,適合 delicate 樣品與在線檢測。

      2. 高精度 + 高重復(fù)性:±0.01 精度,可區(qū)分噴涂、陽極氧化、鍍膜等表面處理的微小差異,數(shù)據(jù)可用于仿真與設(shè)計。

      3. 操作極簡:一鍵校準(zhǔn)、一鍵測量,數(shù)秒出結(jié)果,無需專業(yè)技能,產(chǎn)線工人也能快速上手。

      4. 穩(wěn)定性強(qiáng):雙標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn),長期漂移小;分體式探頭適合狹小空間或自動化工位(可配機(jī)器人電纜)。

      5. 適配廣:金屬、陶瓷、塑料、涂層、薄膜、石墨、碳纖維等幾乎所有固體材料均可測量。

       

       

      四、典型應(yīng)用場景

       
      • 半導(dǎo)體:晶圓薄膜(SiN、SiO?、低 k 介質(zhì))、封裝基板、散熱蓋板、熱界面材料的發(fā)射率測量,優(yōu)化熱處理溫度均勻性與散熱設(shè)計。

      • 航空航天:衛(wèi)星 / 航天器表面涂層、隔熱材料、結(jié)構(gòu)件的發(fā)射率測試,保障熱控系統(tǒng)可靠。

      • 能源與冶金:鍋爐 / 換熱器管道、保溫材料、高溫設(shè)備表面涂層的發(fā)射率評估,提升散熱 / 隔熱效率、節(jié)能降耗。

      • 汽車工業(yè):車燈反光杯、內(nèi)飾件、電池包殼體、散熱涂層的發(fā)射率檢測,保障熱管理與光學(xué)性能。

      • 科研與質(zhì)檢:高校 / 研究所材料研發(fā)、表面工藝質(zhì)控、來料檢驗、失效分析,數(shù)據(jù)可直接用于論文與報告。

       

       

      五、局限性與注意事項

       
      1. 僅限固體表面:不適用于液體、粉末、多孔材料(表面不平整會導(dǎo)致反射散射,誤差增大)。

      2. 波長特定(2~22μm):測量結(jié)果為該波段的法向 - 半球發(fā)射率,與紅外測溫儀常用的窄帶發(fā)射率不可直接混用。

      3. 樣品溫度需穩(wěn)定:樣品溫度波動 >±2℃時,建議靜置至恒溫后再測,避免溫度漂移影響精度。

      4. 表面清潔度要求高:油污、灰塵、指紋會顯著改變發(fā)射率,測量前需用無水乙醇清潔并干燥。

       

       

      六、競品對比(精簡參考)

       
      • vs 傳統(tǒng)高溫法:無需加熱(傳統(tǒng)需加熱到 80~100℃),無損、安全、節(jié)能、速度快。

      • vs 便攜式紅外測溫儀(帶發(fā)射率設(shè)定):測溫儀不能直接測發(fā)射率,只能查表或估算;TSS-5X-3 是專用測量儀器,精度高、數(shù)據(jù)可靠。

      • vs 其他品牌(如德國、美國):TSS-5X-3價格更優(yōu)、操作更簡單、亞洲售后更*,精度與穩(wěn)定性處于一線水平。

       

       

      七、總結(jié)

       
      TSS-5X-3 是一款常溫、高精度、易用、穩(wěn)定的紅外放射率測試儀,完1美匹配材料熱設(shè)計、科研與工業(yè)質(zhì)檢需求,尤其適合半導(dǎo)體、航空航天、能源汽車等高1端行業(yè)。其 “無損 + 快速 + 精準(zhǔn)” 的核心價值,能有效解決傳統(tǒng)測量方法的痛點(diǎn),為產(chǎn)品性能優(yōu)化與節(jié)能設(shè)計提供可靠數(shù)據(jù)支撐。

       

    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流