koueiinc便攜式半球反射率測(cè)量?jī)xPM-E2產(chǎn)品介紹

發(fā)布日期：2026-04-29      瀏覽次數(shù)：68

便攜式半球發(fā)射率測(cè)量?jī)xPM-E2

便攜式半球發(fā)射率測(cè)量?jī)xPM-E2是基于JAXA宇宙科學(xué)研究所為簡(jiǎn)便獲取航天器熱設(shè)計(jì)所需的半球發(fā)射率數(shù)據(jù)而開發(fā)的裝置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品化的測(cè)量?jī)x。
通常，為了準(zhǔn)確了解物質(zhì)表面向全方向（半球方向）輻射的能量，需要測(cè)量物質(zhì)表面的溫度和半球發(fā)射率（而非單一方向的垂直發(fā)射率）。此外，在發(fā)射率的簡(jiǎn)易測(cè)量中，由于會(huì)受到參考樣品和測(cè)量樣品輻射的影響，使表面溫度保持一致至關(guān)重要。
PM-E2能夠在常溫下測(cè)量考慮輻射影響的半球發(fā)射率，而且是一款價(jià)格低廉、易于操作的測(cè)量?jī)x。
該設(shè)備在太陽(yáng)能電池元件及涂料等材料開發(fā)、工廠熱能的有效利用與節(jié)能設(shè)計(jì)等方面非常有效。



• 能夠快速測(cè)量半球入射下的半球反射，并以0.03的不確定度測(cè)量半球發(fā)射率。

• 能夠從小型樣品到大型裝置的表面進(jìn)行短時(shí)間測(cè)量。

  構(gòu)成

  本裝置由測(cè)量部和操作部構(gòu)成，測(cè)量部包括黑體爐（約60℃）、積分球（內(nèi)面鍍金）和熱電堆檢測(cè)器，操作部具備基準(zhǔn)樣品設(shè)置、半球發(fā)射率顯示以及向PC保存數(shù)據(jù)的功能。

  校正

  采用卡路里計(jì)法測(cè)量的低全半球發(fā)射率的金蒸鍍或鋁蒸鍍（εL = 0.05@293K/Edmund公司制）和高全半球發(fā)射率的Black Kapton（εH=0.85@293K/Sheldahl公司制）作為基準(zhǔn)樣品，測(cè)量不確定度為0.03。

  主仕様

  系統(tǒng)

  測(cè)定方法
  半球放射率測(cè)定范圍	0.05～0.95
  傳感器波長(zhǎng)范圍	0.6～42μm（300K黑體輻射能量的95%）
  測(cè)量的不確定度	半球放射率值0.03（積分球測(cè)量半球放射率的不確定度）
  測(cè)量時(shí)間	1～3分
  基準(zhǔn)樣品
  電源	DC12V1A 適配器使用（可使用電池）
  外観寸法
  質(zhì)量
  保管環(huán)境
  付屬品

• 使用說(shuō)明書

• 測(cè)量用應(yīng)用程序CD

• USB線纜 (Type A-Type B)

• 電源線

• 溫度：10～45℃

• 濕度：50%RH

• 操作部：約0.2kg

• 測(cè)定部：約0.7kg

• 操作部：深度145×寬度82×高度32 (mm)

• 測(cè)定部：深度125×寬度60×高度74 (mm)

• 低半球放射率εH=0.05@293K (金蒸著ミラー/ Edmund社製)

• 高半球發(fā)射率εH=0.85@293K（黑色卡普頓薄膜/Sheldahl公司制造，或黑體膠帶/THI-2B 1-5063-01/旭化成公司制造）

• 對(duì)半球入射進(jìn)行半球反射測(cè)定

• 半球放射率εH